การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์

สำนักพิมพ์ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์

หมวดหมู่ : ทั่วไป

หัวข้อเรื่อง : วงจรอิเล็กทรอนิกส์

จำนวนหน้า : 208 หน้า

บาร์โค้ด	เลขเรียกหนังสือ	ชื่อเรื่อง	สถานะ
201034727	621.3815 ช647ก [253-]	การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์	อยู่บนชั้นวางหนังสือ	เข้าสู่ระบบ

MARC Information

041 a : Language

THA

082 a : DC Call Number 1

621.3815

082 b : เลขเรียงผู้แต่ง

621.3815

082 b : DC Call Number

ช647ก

082 c : ปีที่พิมพ์

[253-]

100 a : Author

100 a : Author

245 a : Title

การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์

260 a : Place of publication

กรุงเทพฯ

260 b : Name of publisher

ฟิสิกส์เซ็นเตอร์

260 c : Year of publication

[253-]

300 a : Total pages

208 หน้า

300 b : Index

ภาพประกอบ ;

300 c : size

27 ซม

650 a : Subject